脈沖測試儀是一種能夠減少器材總能耗的測量技能。它經過減少焦耳熱效應(例如I2R和V2/R)，避免對小型納米器材可能造成的損壞。脈沖測試儀采用足夠高的電源對待測器材(DUT)施加距離很短的脈沖，發生高品質的可測信號，然后去掉信號源。

　　經過脈沖測試儀，工程技能人員能夠獲得更多的器材信息，更準確地分析和把握器材的行為特征。例如，利用脈沖測試儀儀技能能夠對納米器材進行瞬態測驗，確認其轉移函數，然后分析待測材料的特征。

　　為安全起見，請閱讀本說明書，并正確使用脈沖測試儀。使用中請注意以下幾點：

(1)當手潮濕或相對濕度超越75%時，請不要使用脈沖測試儀。

(2)因為有高壓脈沖加到接線端子（Surge out），如果轉換接線，務必要在確認高壓電源處于斷開狀態（H.V.OFF燈亮，數字電壓表指示為0）才能進行。

(3)盡管操作脈沖測試儀時，很少遇到電擊，但為安全起見，在操作時不要進食，避免偶然因電擊引起的進食阻塞。

(4)用脈沖測試儀做試品的抗干擾實驗時，要注意須將脈沖測試儀的接地端子與試品的接地端子接地良好。

(5)內帶高壓，請勿隨意拆卸或敞開機殼工作。

　　脈沖測試儀測量對于具有恒溫約束的器材也是必需的，例如SOI器材、FinFET和納米器材，能夠避免自熱效應，避免自熱效應掩蓋研究人員所關心的響應特征。器材工程師還能夠利用脈沖測試儀技能分析電荷抓獲效應。在晶體管敞開后電荷抓獲效應會降低漏極電流。隨著電荷逐步被抓獲到柵介質中，晶體管的閾值電壓因為柵電容內建電壓的升高而增大;然后漏極電流就降低了。

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